功能简介： 

　　TEM低温样品杆：透射电镜（TEM）的一种特殊样品杆，可以通过液氮冷阱把所测样品冷却到一个低温状态（最低-170°C），这样一方面可减少样品在电子束辐照下可能的碳污染，确保成分的能谱分析的准确性；另一方面可有效降低因高能电子束辐照及其产生的热效应而导致的对样品结构的破坏；而温度在-170°C~+100°范围内的可调性亦可开展低温段结构相变的原位研究；而样品杆的双倾功能，可实现电子衍射和高分辨成像的分析。 

　　TEM电和力性能原位测试样品杆：TEM的一种特殊样品杆，可以对所测样品施加外电场或力场，一方面测量样品的微观电学性能（I~V曲线）或力学性能（应力~应变曲线），另一方面可实时观察分析电场或力场施加条件下样品的微结构演变，给出材料外场作用下的动态行为。 

　　仪器型号与工作条件： 

　　TEM低温样品杆：设备厂商：美国Gatan公司，型号：Model 636。在JEOL公司的透射电镜上使用；最高加热温度：> +100℃；最低冷却温度：< -170℃；温度稳定度：£±1°C；冷却方式：液氮冷却；倾转：样品杆可进行双倾，以获得晶带轴衍射和高分辨成像。 

　　TEM电和力性能原位测试样品杆：设备厂商：北京皮飞科技有限公司，型号：FE02-ST。在JEOL公司的透射电镜上使用；样品位移的精确控制：三维方向的移动，精度优于1nm；力的载荷精度：优于1nN；电流测量：0-30mA，精度优于1pA；电压输出：0-150V，精度优于1mV。 

　　存放地点与联系人： 

　　设备安放地址：长宁园区3号楼102室。 

　　联系人：朱晨曦，021-52413104。 

　　仪器图片： 

　　TEM低温样品杆TEM电和力性能原位测试样品杆